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本仪器可广泛用于机械工业的金相组织观察分析,地矿部门对矿物的分析研究,电子等方面的观察测量,是工厂、高等院校、科研机构及电子工业的首先。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好,简洁而新颖的外观更符合现代潮流,人性化的设计,简便的操作使您从繁重的工作压力中解放出来。
技术规格
型号
XJP-403J
XJP-403JT
XJP-403JA
XJP-403JAT
观察头
45 度铰链式双目头 ( 50mm -75mm )
45 度铰链式三目头 ( 50mm -75mm )
目镜
WF10X /20mm
WF10X /22mm
WF10X / 20mm 带十字分划板及0.1mm 刻尺
转换器
四孔转换器
五孔转换器
物镜
195 金相物镜
4 X /0.1W.D .25mm
10 X /0.25W.D .11mm
20 X /0.4W.D .9mm
40 X /0.6W.D. 3.8mm
无限远金相物镜
4 X /0.1W.D .25mm
10 X / 0.25W.D .12mm
20 X / 0.4W.D .10mm
40 X / 0.6W.D. 7.1mm
50 X /0.75W.D. 1.9mm 80 X (S) /0.9W.D.  0.9mm
平台
双层移动平台
平台尺寸 : 242mm × 172mm
中心载物台:Φ110mm
移动范围 : 75mm × 50mm
调焦
粗、微动同轴调焦,采用齿轮变速箱调焦机构,微动格值0.002mm
照明
落射柯勒照明,带孔径可变光栏和视场可变光栏
12V/30W.AC85V-230V 光源可调节
偏光装置
检偏镜可 360 度转动,起偏镜检偏镜均可移出光路
滤色片
蓝色、绿色、黄色
检测工具
0.01mm 测微尺
可供附件
130 万、200万、300 万、500万像素 CMOS电子目镜
摄影装置